Caracterización por difracción de rayos-X de películas delgadas de CdSx Te1-x

Fuente: Redalyc

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Detalles Bibliográficos
Autor principal:	M. Zapata Torres
Formato:	Artículo científico
Lenguaje:	es
Publicado:	Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. 2003
Materias:	Física, Astronomía y Matemáticas
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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