Buchumschlag

Caracterización de los polímeros fotorrefractivos basados en poly(N-vinylcarbazole) mediante técnicas de las rejillas dinámicas

Fuente: Redalyc

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	V. Camacho
Format:	Artículo científico
Sprache:	es
Veröffentlicht:	Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. 2003
Schlagworte:	Física, Astronomía y Matemáticas Fuerza foto electromotriz Efecto fotorrefractivo Polímero fotorrefractivo
Online-Zugang:	Acceder al recurso
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

_version_	1876456465126916096
author	V. Camacho
author_facet	V. Camacho
contents	Caracterización de los polímeros fotorrefractivos basados en poly(N-vinylcarbazole) mediante técnicas de las rejillas dinámicas V. Camacho R. Ramos S. Stepanov S. Mansurova R. Bittner K. Meerholz Física, Astronomía y Matemáticas Fuerza foto electromotriz Efecto fotorrefractivo Polímero fotorrefractivo Se presentan los resultados de caracterización de los polímeros fotorrefractivos (FR) basados en PVK (poly(Nvinylcarbazole))por medio de las técnicas de las rejillas dinámicas. Las técnicas aplicadas fueron la mezcla de dosondas (TWM por sus siglas en ingles) modulada en fase y la detección de corrientes alternas basadas en el efecto defuerza foto-electromotriz (P-EMF por sus siglas en ingles) de estado no estacionario. En ambas técnicas el materialfue iluminado por una rejilla dinámica de luz, i.e. por un patrón de interferencia oscilante. La técnica de TWMdetecta la intensidad del haz difractado de la rejilla del índice de refracción formada en el material y permite evaluaramplitud y la fase de la rejilla del campo de carga espacial. La técnica de P-EMF utiliza la detección de corrientealterna que se forma debido a la interacción de la rejilla de fotoconductividad y la rejilla del campo de carga espacial.Esta técnica permite determinar el tiempo de vida de portadores mayoritarios y el tiempo de relajación dieléctrica 2003 artículo científico 1665-3521 https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94216403 es http://www.redalyc.org/revista.oa?id=942 Superficies y vacío application/pdf Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. Superficies y vacío (México) Num.4 Vol.16
format	Artículo científico
id	redalyc_94216403
institution	Redalyc
language	es
publishDate	2003
publisher	Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C.
spellingShingle	Caracterización de los polímeros fotorrefractivos basados en poly(N-vinylcarbazole) mediante técnicas de las rejillas dinámicas V. Camacho Física, Astronomía y Matemáticas Fuerza foto electromotriz Efecto fotorrefractivo Polímero fotorrefractivo Caracterización de los polímeros fotorrefractivos basados en poly(N-vinylcarbazole) mediante técnicas de las rejillas dinámicas V. Camacho R. Ramos S. Stepanov S. Mansurova R. Bittner K. Meerholz Física, Astronomía y Matemáticas Fuerza foto electromotriz Efecto fotorrefractivo Polímero fotorrefractivo Se presentan los resultados de caracterización de los polímeros fotorrefractivos (FR) basados en PVK (poly(Nvinylcarbazole))por medio de las técnicas de las rejillas dinámicas. Las técnicas aplicadas fueron la mezcla de dosondas (TWM por sus siglas en ingles) modulada en fase y la detección de corrientes alternas basadas en el efecto defuerza foto-electromotriz (P-EMF por sus siglas en ingles) de estado no estacionario. En ambas técnicas el materialfue iluminado por una rejilla dinámica de luz, i.e. por un patrón de interferencia oscilante. La técnica de TWMdetecta la intensidad del haz difractado de la rejilla del índice de refracción formada en el material y permite evaluaramplitud y la fase de la rejilla del campo de carga espacial. La técnica de P-EMF utiliza la detección de corrientealterna que se forma debido a la interacción de la rejilla de fotoconductividad y la rejilla del campo de carga espacial.Esta técnica permite determinar el tiempo de vida de portadores mayoritarios y el tiempo de relajación dieléctrica 2003 artículo científico 1665-3521 https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94216403 es http://www.redalyc.org/revista.oa?id=942 Superficies y vacío application/pdf Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. Superficies y vacío (México) Num.4 Vol.16
title	Caracterización de los polímeros fotorrefractivos basados en poly(N-vinylcarbazole) mediante técnicas de las rejillas dinámicas
topic	Física, Astronomía y Matemáticas Fuerza foto electromotriz Efecto fotorrefractivo Polímero fotorrefractivo
url	https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94216403