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Charge trapping phenomenon in Al/SRO/Al on Si structure by lateral electrical stress

Fuente: Redalyc

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Yu Zhenrui
Format:	Artículo científico
Sprache:	en
Veröffentlicht:	Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. 2003
Schlagworte:	Física, Astronomía y Matemáticas Charge trapping CV measurements Si nanocrystals Silicon rich oxide Lateral electrical stress
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