Critical thickness of Ge / GaAs(001) epitaxial films

Fuente: Redalyc

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	A. G. Rodríguez
Format:	Artículo científico
Sprache:	en
Veröffentlicht:	Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. 2003
Schlagworte:	Física, Astronomía y Matemáticas III critical thinks ray diffraction High resolution X Heterostructure IV
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