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Determination of recombination lifetime in MOS structures using a lineal voltage-sweep technique

Fuente: Redalyc

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	P. Peykov
Format:	Artículo científico
Sprache:	en
Veröffentlicht:	Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. 2004
Schlagworte:	Física, Astronomía y Matemáticas Lineal Voltage Sweep MOS Structures Recombination Lifetime
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