Buchumschlag

New observation of single electron trapping effect in Si nanoclusters embedded in SRO layer

Fuente: Redalyc

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	M. Aceves
Format:	Artículo científico
Sprache:	en
Veröffentlicht:	Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. 2004
Schlagworte:	Física, Astronomía y Matemáticas Single Silicon rich oxide Si nanoclsuters electron trapping
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