Characterization by photoreflectance of Eo´ and E1 silicon-like critical points in ion implanted Si1-yCy thin films
Fuente:
Redalyc
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|---|---|
| Format: | Artículo científico |
| Langue: | en |
| Publié: |
Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C.
2005
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