Characterization by photoreflectance of Eo´ and E1 silicon-like critical points in ion implanted Si1-yCy thin films

Fuente: Redalyc

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Bibliographic Details
Main Author:	M. Melendez-Lira
Format:	Artículo científico
Language:	en
Published:	Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. 2005
Subjects:	Física, Astronomía y Matemáticas Si1 yCy Photoreflectance Semiconductor alloys
Online Access:	Acceder al recurso
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