Factores de sensibilidad XPS para la cuantificación de catalizadores de Bi2MoxW1-xO6
Fuente:
Redalyc
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| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | Artículo científico |
| Lenguaje: | es |
| Publicado: |
Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C.
2005
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| _version_ | 1876475115435196416 |
|---|---|
| author | A. Manzanilla |
| author_facet | A. Manzanilla |
| contents | Factores de sensibilidad XPS para la cuantificación de catalizadores de Bi2MoxW1-xO6 A. Manzanilla I. Riech P. Bartolo-Pérez J. L. Peña R. Rangel Física, Astronomía y Matemáticas XPS Catalizadores Cuantificación La espectroscopia de fotoelectrones de rayos se utiliza ampliamente para determinar la composición química y los estados de oxidación de materiales sólidos. Para la cuantificación con XPS es necesario tener factores de sensibilidad relativos confiables. Se presentan espectros XPS generales y de alta resolución de los estándares de MoO3, WO3 y Bi2O3. El estado de oxidación de oxígeno no cambia en los estándares; por lo tanto se toma como referencia el factor de sensibilidad del oxígeno. Se obtienen los factores de sensibilidad XPS para Mo, W y Bi; y a continuación se hace uso de estos para la cuantificación de los catalizadores de Bi2MoxW1-xO6. También se determinan los compuestos que se forman en estos catalizadores. 2005 artículo científico 1665-3521 https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94218403 es http://www.redalyc.org/revista.oa?id=942 Superficies y vacío application/pdf Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. Superficies y vacío (México) Num.4 Vol.18 |
| format | Artículo científico |
| id | redalyc_94218403 |
| institution | Redalyc |
| language | es |
| publishDate | 2005 |
| publisher | Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. |
| spellingShingle | Factores de sensibilidad XPS para la cuantificación de catalizadores de Bi2MoxW1-xO6 A. Manzanilla Física, Astronomía y Matemáticas XPS Catalizadores Cuantificación Factores de sensibilidad XPS para la cuantificación de catalizadores de Bi2MoxW1-xO6 A. Manzanilla I. Riech P. Bartolo-Pérez J. L. Peña R. Rangel Física, Astronomía y Matemáticas XPS Catalizadores Cuantificación La espectroscopia de fotoelectrones de rayos se utiliza ampliamente para determinar la composición química y los estados de oxidación de materiales sólidos. Para la cuantificación con XPS es necesario tener factores de sensibilidad relativos confiables. Se presentan espectros XPS generales y de alta resolución de los estándares de MoO3, WO3 y Bi2O3. El estado de oxidación de oxígeno no cambia en los estándares; por lo tanto se toma como referencia el factor de sensibilidad del oxígeno. Se obtienen los factores de sensibilidad XPS para Mo, W y Bi; y a continuación se hace uso de estos para la cuantificación de los catalizadores de Bi2MoxW1-xO6. También se determinan los compuestos que se forman en estos catalizadores. 2005 artículo científico 1665-3521 https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94218403 es http://www.redalyc.org/revista.oa?id=942 Superficies y vacío application/pdf Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. Superficies y vacío (México) Num.4 Vol.18 |
| title | Factores de sensibilidad XPS para la cuantificación de catalizadores de Bi2MoxW1-xO6 |
| topic | Física, Astronomía y Matemáticas XPS Catalizadores Cuantificación |
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