Propiedades ópticas, de composición y morfológicas de películas delgadas de SiOx depositadas por HFCVD

Fuente: Redalyc

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	D. E. Vázquez-Valerdi
Format:	Artículo científico
Sprache:	es
Veröffentlicht:	Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. 2011
Schlagworte:	Física, Astronomía y Matemáticas PL Si nc AFM SiOx
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