Quantification of phase content in TiO2 thin films by Raman spectroscopy

Fuente: Redalyc

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Détails bibliographiques
Auteur principal:	V.H. Castrejón-Sánchez
Format:	Artículo científico
Langue:	en
Publié:	Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. 2014
Sujets:	Física, Astronomía y Matemáticas Anatase rutile TiO2 Raman spectroscopy Reactive sputtering
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