Quantification of phase content in TiO2 thin films by Raman spectroscopy

Fuente: Redalyc

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Bibliographic Details
Main Author:	V.H. Castrejón-Sánchez
Format:	Artículo científico
Language:	en
Published:	Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. 2014
Subjects:	Física, Astronomía y Matemáticas Anatase rutile TiO2 Raman spectroscopy Reactive sputtering
Online Access:	Acceder al recurso
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