Si3 N4 Young’s modulus measurement from microcantilever beams using a calibrated stylus profiler

Fuente: Redalyc

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Bibliographic Details
Main Author:	J. E. Munguía-Cervantes
Format:	Artículo científico
Language:	en
Published:	Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. 2017
Subjects:	Física, Astronomía y Matemáticas
Online Access:	Acceder al recurso
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