Si3 N4 Young’s modulus measurement from microcantilever beams using a calibrated stylus profiler

Fuente: Redalyc

Guardado en:

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	J. E. Munguía-Cervantes
Formato:	Artículo científico
Lenguaje:	en
Publicado:	Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. 2017
Materias:	Física, Astronomía y Matemáticas
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet