Si3 N4 Young’s modulus measurement from microcantilever beams using a calibrated stylus profiler

Fuente: Redalyc

Enregistré dans:

Détails bibliographiques
Auteur principal:	J. E. Munguía-Cervantes
Format:	Artículo científico
Langue:	en
Publié:	Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. 2017
Sujets:	Física, Astronomía y Matemáticas
Accès en ligne:	Acceder al recurso
Tags:	Ajouter un tag Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!

Internet