Scalable Van Der Waals Integration of III‐N Devices Over 2D Materials for CMOS‐Compatible Architectures

Fuente: Wiley Open Access

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Gyuhyung Lee, Youngtek Oh, Junsik Hwang, Seog Woo Hong, Sanghoon Song, Keun Wook Shin, Jaeyong Lee, Sisung Yoon, Dong Kyun Kim, Hyun‐Joon Kim‐Lee, Dongho Kim, Joosung Kim, Dong‐Chul Shin, Min‐chul Yu, Jinyeong Lee, Joon‐Yong Park, Hyun Mi Lee, Sang Won Kim, Byunghoon Na, Seokho Yun, Yongsung Kim, Jaewook Jeong, Changkun Park, Kyungwook Hwang, Geonwook Yoo
Formato:	Artículo Open Access
Publicado:	Wiley 2025
Materias:	Advanced Materials
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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