Natural van der Waals Canalization Lens for Non‐Destructive Nanoelectronic Circuit Imaging and Inspection (Adv. Mater. 32/2025)

Fuente: Wiley Open Access
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Autori principali: Qingdong Ou, Shuwen Xue, Weiliang Ma, Jiong Yang, Guangyuan Si, Lu Liu, Gang Zhong, Jingying Liu, Zongyuan Xie, Ying Xiao, Tian Sun, Ding Yuan, Kourosh Kalantar‐Zadeh, Peining Li, Zhigao Dai, Huanyang Chen, Qiaoliang Bao
Natura: Artículo Open Access
Pubblicazione: Wiley 2025
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