Semiconductor Bandgap Measurements: Overview of Optical, Electrical, and Device‐Level Techniques

Fuente: Wiley Open Access

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Dettagli Bibliografici
Autori principali:	Sanjay Sahare, Mykhailo M. Solovan, Andrii I. Mostovyi, Hryhorii P. Parkhomenko, Nora Schopp, Marcin Ziółek, Viktor V. Brus
Natura:	Artículo Open Access
Pubblicazione:	Wiley 2025
Soggetti:	Advanced Optical Materials
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