Semiconductor Bandgap Measurements: Overview of Optical, Electrical, and Device‐Level Techniques

Fuente: Wiley Open Access
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Auteurs principaux: Sanjay Sahare, Mykhailo M. Solovan, Andrii I. Mostovyi, Hryhorii P. Parkhomenko, Nora Schopp, Marcin Ziółek, Viktor V. Brus
Format: Artículo Open Access
Publié: Wiley 2025
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