High‐Performance UiO‐66‐NH₂/PI MMMs: Overcoming Interfacial Defects for High‐Temperature Gas Separation Applications

Fuente: Wiley Open Access
Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autores principales: Yun Xiong, Yifan Shu, Shi Cai, Shengpeng Liu, Xiaoyu Wu
Formato: Artículo Open Access
Publicado: Wiley 2025
Materias:
Acceso en línea:
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!