Capturing of the internal structure and hidden defects as a basis for reliability analyses of large structures

Fuente: Wiley Open Access

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Auteurs principaux:	Christoph Heinze, Arne Pionteck, Michael Geist, Wilko Flügge
Format:	Artículo Open Access
Publié:	Wiley 2025
Sujets:	ce/papers
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