Research on insulator image segmentation and defect recognition technology based on U‐Net and YOLOv7
Fuente:
Wiley Open Access
Enregistré dans:
| Auteurs principaux: | , , , |
|---|---|
| Format: | Artículo Open Access |
| Publié: |
Wiley
2024
|
| Sujets: | |
| Accès en ligne: | |
| Tags: |
Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|
| DOI: | 10.1002/cpe.8266 |
|---|