Identification and molecular mapping of two quantitative trait loci for Hessian fly resistance in a durum × cultivated emmer wheat population

Fuente: Wiley Open Access

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Auteurs principaux:	Kirk M. Anderson, Marion O. Harris, Jason D. Fiedler, Justin D. Faris, Steven S. Xu, Amanda R. Peters Haugrud
Format:	Artículo Open Access
Publié:	Wiley 2025
Sujets:	Crop Science
Accès en ligne:	Acceder al recurso
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