A Low‐Power Triple‐Node‐Upset Recovery Hardened Latch Based on Triple Modular Redundancy

Fuente: Wiley Open Access

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Hui Xu, Chuanjian Zhang, Ruijun Ma, Zhengfeng Huang, Shengnan Ye, Haifeng Sun, Yue Dai, Xin Chen, Ye Tang
Format:	Artículo Open Access
Veröffentlicht:	Wiley 2025
Schlagworte:	International Journal of Circuit Theory and Applications
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