Temperature‐Dependent Modeling and Validation for Near‐ZCT Transients of High‐Voltage Field‐Stop IGBTs

Fuente: Wiley Open Access

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Shuiyuan He, Ruiqi Ma, Chongshan Xie, Yunhao Guo, Jiepin Zhang, Yingtao Ma, Lijun Diao
Format:	Artículo Open Access
Veröffentlicht:	Wiley 2026
Schlagworte:	International Journal of Circuit Theory and Applications
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