Temperature‐Dependent Modeling and Validation for Near‐ZCT Transients of High‐Voltage Field‐Stop IGBTs

Fuente: Wiley Open Access
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Shuiyuan He, Ruiqi Ma, Chongshan Xie, Yunhao Guo, Jiepin Zhang, Yingtao Ma, Lijun Diao
Formato: Artículo Open Access
Publicado: Wiley 2026
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