When contact lines remember: Surface charge and the evolving interaction with defects

Fuente: Wiley Open Access
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Yaolei Xiang, Benedikt Straub, Diego Cortes, Hans‐Jürgen Butt, Kaloian Koynov
Formato: Artículo Open Access
Publicado: Wiley 2025
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