Impact of neutron radiation induced defects on the surge current robustness of silicon carbide P‐intrinsic‐N diodes

Fuente: Wiley Open Access

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Auteurs principaux:	Haoshu Tan, Lin Zhang, Zhiqiang Li, Jun Tao Li, Peng Dong
Format:	Artículo Open Access
Publié:	Wiley 2024
Sujets:	Electron
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