Optimized Design of YOLOv5s Algorithm for Printed Circuit Board Surface Defect Detection
Fuente:
Wiley Open Access
Gespeichert in:
| Hauptverfasser: | , |
|---|---|
| Format: | Artículo Open Access |
| Veröffentlicht: |
Wiley
2025
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| Schlagworte: | |
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