High‐speed and contactless inspection of defective micro‐LEDs through the photovoltaic effect

Fuente: Wiley Open Access

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Toshiro Yasuda, Shigetoshi Sugawa, Yayoi Yokomichi, Kazuhisa Kobayashi, Hiroshi Hamori, Akinobu Teramoto
Formato:	Artículo Open Access
Publicado:	Wiley 2024
Materias:	Journal of the Society for Information Display
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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