Self‐Supervised Anomaly Segmentation for Surface Defect Inspection in Display Panels

Fuente: Wiley Open Access
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Jou‐Won Song, Kyeongbo Kong, Ye‐In Park, Seong‐Gyun Kim, Suk‐Ju Kang
Formato: Artículo Open Access
Publicado: Wiley 2025
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