Simulating and correcting the pileup effect in deep‐silicon photon‐counting CT

Fuente: Wiley Open Access
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Erik Fredenberg, Daniel Collin, Louis Carbonne, Mingye Wu, Bruno De Man, Fredrik Grönberg
Formato: Artículo Open Access
Publicado: Wiley 2025
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