Impact of Rapid Thermal Processing on Bulk Lifetime and Surface Recombination Velocity of Crystalline Silicon With Passivating Tunnel Oxide Contacts

Fuente: Wiley Open Access

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	F.‐J. Haug, A. Morisset, M. Lehmann, S. Libraro, E. Genç, J. Hurni, C. Ballif
Formato:	Artículo Open Access
Publicado:	Wiley 2025
Materias:	Progress in Photovoltaics: Research and Applications
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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