Soybean maturity prediction using two‐dimensional contour plots from drone‐based time series imagery

Fuente: Wiley Open Access

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Bitgoeul Kim, Samuel W. Blair, Talukder Z. Jubery, Soumik Sarkar, Arti Singh, Asheesh K. Singh, Baskar Ganapathysubramanian
Formato:	Artículo Open Access
Publicado:	Wiley 2025
Materias:	The Plant Phenome Journal
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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