18‐4: Mechanical Stress‐Induced Recoverable and Unrecoverable Deteriorations of Flexible a‐InGaZnO Thin‐Film Transistor

Fuente: Wiley Open Access

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Jilin Li, Bowen Sun, Huan Yang, Runxiao Shi, Fion Sze Yan Yeung, Man Hoi Wong, Hailong Jiao, Shengdong Zhang, Lei Lu
Formato:	Artículo Open Access
Publicado:	Wiley 2024
Materias:	SID Symposium Digest of Technical Papers
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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