P‐1.5: Influence of Bandgap of SiN x Gate Insulator on the Degradation Behavior of Amorphous Silicon Thin‐Film Transistors under Reliability Test

Fuente: Wiley Open Access

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Xiaoliang Zhou, Hao Li, Lei Qiao, Xu Wang, Zhichao Zhou, Liwang Song, Zhongjie Liu, Zhiwei Tan
Format:	Artículo Open Access
Publié:	Wiley 2024
Sujets:	SID Symposium Digest of Technical Papers
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