30‐3: Direct Observation of 2 Delta L in a‐IGZO TFT Using Scanning Capacitance Microscopy

Fuente: Wiley Open Access
Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autores principales: Hyunsoo Lee, Woo-Geun Lee, Yu-Jin Kim, Kangnam Kim, Songhee Kim, Seongyeol Syn, Beom Jun Kim, Kapsoo Yoon
Formato: Artículo Open Access
Publicado: Wiley 2024
Materias:
Acceso en línea:
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!