64‐5: Virtual ESD Failure Detection Methodology for Oxide TFT Based OLED Panels

Fuente: Wiley Open Access

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Hyun Sung Park, Hyeseok Na, Dongjin Seo, Sooyoung Park, Hyeondo Park, Young-gu Kang, Yujin Choi, Minji Kim, Yudeok Seo, Sung-Chan Jo
Formato:	Artículo Open Access
Publicado:	Wiley 2024
Materias:	SID Symposium Digest of Technical Papers
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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