P‐12: Improve the Reliability of a‐IGZO TFT through Optimizing the Threshold Voltage and Channel Thickness in AMOLED Hybrid Backplane
Fuente:
Wiley Open Access
Gespeichert in:
| Hauptverfasser: | , , , , |
|---|---|
| Format: | Artículo Open Access |
| Veröffentlicht: |
Wiley
2024
|
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| DOI: | 10.1002/sdtp.17811 |
|---|