P‐53: Analysis of dead pixel origins and potential defect prediction using machine learning with tabular data

Fuente: Wiley Open Access

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Jun Hee Han, Yoonseob Jeong, Minkyu Chun, Sang Won Yoon, Jeong-Hyeon Choi, Young Jun Choi, Young Mi Kim, Sang Hoon Jung, Joon-Young Yang, Sooyoung Yoon
Format:	Artículo Open Access
Veröffentlicht:	Wiley 2024
Schlagworte:	SID Symposium Digest of Technical Papers
Online-Zugang:	Acceder al recurso
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