P‐266: Late‐News Poster: Quality Assessment Towards Reflective Pattern Based on Diffraction Appearance

Fuente: Wiley Open Access

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Soyoung Kwon, Wooyoung Cheon, Sumi Lee, Youngjun Seo, Jaejoong Kwon, Yongjo Kim
Format:	Artículo Open Access
Veröffentlicht:	Wiley 2024
Schlagworte:	SID Symposium Digest of Technical Papers
Online-Zugang:	Acceder al recurso
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