P‐266: Late‐News Poster: Quality Assessment Towards Reflective Pattern Based on Diffraction Appearance

Fuente: Wiley Open Access
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Soyoung Kwon, Wooyoung Cheon, Sumi Lee, Youngjun Seo, Jaejoong Kwon, Yongjo Kim
Formato: Artículo Open Access
Publicado: Wiley 2024
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