P‐166: Interface Defect Engineering Strategy to Enhance Flexibility of Thin Film Encapsulation by Inhibiting Crack Propagation

Fuente: Wiley Open Access
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Sooyeon Baek, Kyung Cheol Choi
Formato: Artículo Open Access
Publicado: Wiley 2024
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