28‐4: Aftermarket Detection of Line Defects in Display Panels Using New TDDI with Testing Mode

Fuente: Wiley Open Access
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Autori principali: Ya-Ru Yang, En Tsung, Ya-Hsiang Tai, Yao-Chung Chang, Chih-Chang Lai, Ching-Chun Lin
Natura: Artículo Open Access
Pubblicazione: Wiley 2025
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