28‐4: Aftermarket Detection of Line Defects in Display Panels Using New TDDI with Testing Mode

Fuente: Wiley Open Access

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Ya-Ru Yang, En Tsung, Ya-Hsiang Tai, Yao-Chung Chang, Chih-Chang Lai, Ching-Chun Lin
Formato:	Artículo Open Access
Publicado:	Wiley 2025
Materias:	SID Symposium Digest of Technical Papers
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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