70‐4: A Novel Fabrication Process for Enhancing the Reliability of IGZO Thin Film Transistor

Fuente: Wiley Open Access
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Bokyoung Lee, Jungho Bang, Min-Joo Kim, Seung Hee Nam, Kwon-Shik Park, Jong Uk Bae, Soo Young Yoon
Format: Artículo Open Access
Veröffentlicht: Wiley 2025
Schlagworte:
Online-Zugang:
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!