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70‐4: A Novel Fabrication Process for Enhancing the Reliability of IGZO Thin Film Transistor

Fuente: Wiley Open Access

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Bokyoung Lee, Jungho Bang, Min-Joo Kim, Seung Hee Nam, Kwon-Shik Park, Jong Uk Bae, Soo Young Yoon
Format:	Artículo Open Access
Veröffentlicht:	Wiley 2025
Schlagworte:	SID Symposium Digest of Technical Papers
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