70‐4: A Novel Fabrication Process for Enhancing the Reliability of IGZO Thin Film Transistor

Fuente: Wiley Open Access
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Auteurs principaux: Bokyoung Lee, Jungho Bang, Min-Joo Kim, Seung Hee Nam, Kwon-Shik Park, Jong Uk Bae, Soo Young Yoon
Format: Artículo Open Access
Publié: Wiley 2025
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