P‐229: Late‐News Poster: Improved PBTS Reliability of Dual‐Gate a‐IGZO TFT by Bottom Interface Optimization
Fuente:
Wiley Open Access
Gespeichert in:
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| Format: | Artículo Open Access |
| Veröffentlicht: |
Wiley
2025
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| DOI: | 10.1002/sdtp.18478 |
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