P‐229: Late‐News Poster: Improved PBTS Reliability of Dual‐Gate a‐IGZO TFT by Bottom Interface Optimization

Fuente: Wiley Open Access
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Autori principali: Hanpeng Deng, Yuanpeng Chen, Xingyu Zhou, Wei Wang, Yanqing Guan, Chao Dai, Ming-Chou Wu
Natura: Artículo Open Access
Pubblicazione: Wiley 2025
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