P‐80: Systematic Study on Scanning Direction of Excimer Laser Annealing in p‐Type Low‐Temperature Polycrystalline Silicon Thin‐Film Transistors

Fuente: Wiley Open Access

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Qian Xiao, Guoren Hu, Quanhu Yang, Guixue Zhang, Rui Zhang, Shirong Zhang, Haipeng Wang, Minyang Deng, Chunrong Lai, Yunzhi Wang, Wuyang Zhao
Formato:	Artículo Open Access
Publicado:	Wiley 2025
Materias:	SID Symposium Digest of Technical Papers
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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