38‐4: Dynamic On‐State Stress‐Induced Degradation in Polycrystalline Silicon Thin‐Film Transistors

Fuente: Wiley Open Access

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Auteurs principaux:	Yunyang Wang, Meng Zhang, Zhendong Jiang, Yan Yan, Lei Lu, Man Wong, Hoi‐Sing Kwok
Format:	Artículo Open Access
Publié:	Wiley 2025
Sujets:	SID Symposium Digest of Technical Papers
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