Buchumschlag

55‐1: Invited Paper: Study on Intrinsic and Extrinsic OLED Degradation by Utilizing μ‐PL with Gradient Shaping Preparation and GCIB‐XPS/REELS

Fuente: Wiley Open Access

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Takahiro Ikarashi, Shunnosuke, Okino, Daichi Shirakura, Hiroshi Fujimoto, Hikaru Takano, Takahiro Shibamori, Takashi Miyamoto, Kentaro Harada
Format:	Artículo Open Access
Veröffentlicht:	Wiley 2025
Schlagworte:	SID Symposium Digest of Technical Papers
Online-Zugang:	Acceder al recurso
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