56‐2: The Effects of Oxides Deposited Using Different Precursors on the Characteristics of Top‐Gate Indium‐Tin‐Zinc Oxide Thin‐Film Transistors with Self‐Aligned, Oxygen‐Plasma Activated Source/Drain Regions
Fuente:
Wiley Open Access
Gespeichert in:
| Hauptverfasser: | Xinying Xie, Man Wong |
|---|---|
| Format: | Artículo Open Access |
| Veröffentlicht: |
Wiley
2025
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| Schlagworte: | |
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