56‐2: The Effects of Oxides Deposited Using Different Precursors on the Characteristics of Top‐Gate Indium‐Tin‐Zinc Oxide Thin‐Film Transistors with Self‐Aligned, Oxygen‐Plasma Activated Source/Drain Regions

Fuente: Wiley Open Access
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Hauptverfasser: Xinying Xie, Man Wong
Format: Artículo Open Access
Veröffentlicht: Wiley 2025
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